金屬鍍層測厚儀主要應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。結(jié)構(gòu)新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機(jī)電一體結(jié)構(gòu)，整機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)平穩(wěn)，無振動(dòng)，操作簡單，實(shí)驗(yàn)速度快，降低勞動(dòng)強(qiáng)度。它是一種對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。
1.將金屬鍍層測量儀與試樣放置在規(guī)定的環(huán)境中放置4h后測量。
2.每次測量前用無水乙醇擦拭儀器的測量頭。
3.將試樣平放在測量儀的橡膠板上，使測量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測量前儀器必須校零。
5.測量試樣的電阻值。測試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。
金屬鍍層測厚儀主要測量方法是采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。磁性測厚法的膜厚儀是一種超小型測量儀，它能快速，無損傷，精確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂。電鍍層厚度的測量?？蓮V泛用于制造業(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)，商檢等檢測領(lǐng)域。特別適用于工程現(xiàn)場測量。
二次熒光法的測厚儀的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。
