x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(zhì)(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質(zhì)的厚度，這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質(zhì)的強度增加，厚度值也增加，但不是直線關系；通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經(jīng)驗系數(shù)法)得到一個接近實際對應關系的曲線。
1.磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
3.渦流層層測厚法
可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度。
x射線鍍層測厚儀主要性能特點：
良好的射線屏蔽作用；
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；
采用高度定位激光，可自動定位測試高度；
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊；
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；
測試口高度敏感性傳感器保護。
